VGTU talpykla > Elektronikos fakultetas / Faculty of Electronics > Moksliniai straipsniai / Research articles >

Lietuvių   English
Please use this identifier to cite or link to this item: http://dspace.vgtu.lt/handle/1/826

Title: Nanodarinių formavimosi procesų tyrimas
Other Titles: Research of Self-Formation Nanostructures
Authors: Petrauskas, Romas
Keywords: šoninis ėsdinimas
selektyvumas
SILVACO TCAD
nanodariniai
lateral etching
selectivity
nanostructures
Issue Date: 2011
Publisher: Vilniaus Gedimino technikos universitetas
Citation: Petrauskas, R. 2011. Nanodarinių formavimosi procesų tyrimas, Mokslas – Lietuvos ateitis [Science – Future of Lithuania] 3(1): 59–62. doi:10.3846/mla.2011.012
Abstract: Tiriami šoninio ėsdinimo procesai nanodarinių formavimosi geometrijai modeliuoti Silvaco TCAD programinio paketo ATHENA programa. Modeliuojamas nanodarinių formavimasis esant skirtingoms kaukės selektyvumo vertėms, lygioms 2, 10, 40 ir 100 ėsdinamo sluoksnio atžvilgiu, kai ėsdinimo trukmė 0–180 s. Ėsdinimo greitis pastovus – 1,33 nm/s. Išanalizuota ėsdinamo sluoksnio sisteminės paklaidos priklausomybės nuo jo storio. Kompiuterinio modeliavimo rezultatai yra artimi gautiems taikant analitinius kitų autorių skaičiavimo modelius.
Description: Abctract in English. Lateral etching processes for the modeling of the geometry of self-formation nanostructures with Silvaco TCAD Athena program are analyzed. Self-formation nanostructures is modeled with different mask selectivity values equal to 2, 10, 40 and 100 with respect to the etching layer, with the etching duration of 0–180 s. The etching rates are constant – 1.33 nm/s. The analysis of the dependence of the etching systematic error on its thickness has been carried out. The computer modeled results are close to the ones produced by means of the application of the analytical calculation models by other authors.
URI: http://dspace1.vgtu.lt/handle/1/826
ISSN: 2029-2341 print
2029-2252 online
Appears in Collections:Moksliniai straipsniai / Research articles

Files in This Item:

File Description SizeFormat
59-62_Petrauskas.pdf381.17 kBAdobe PDFView/Open

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2010  Duraspace - Feedback